文档解析
本文介绍了如何在STM32微控制器上使用Keil MDK-ARM 3.5和UV4beta软件，结合Jlink V7调试器，实现SRAM调试的方法。该方法旨在避免因频繁擦写FLASH而导致MCU寿命缩短的问题，特别适合新手学习。以STM32F103RBT6为例，该MCU拥有128KB的FLASH和20KB的SRAM。作者将内存划分为16KB用于模拟FLASH，4KB用于内存。通过复制RAM.ini文件到项目目录，并在Keil中设置新的目标SRAM，修改IROM1和IRAM1的起始地址和大小，以及在Debug选项中配置仿真器和初始化文件，实现了在SRAM上的调试。调试过程中，需要注意不要点击Flash菜单下的下载选项。通过这些步骤，可以有效地在SRAM上进行调试，延长MCU的使用寿命。
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