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手持单探头EMI调试方案
Langer专门为近场测试设计的探头，特别适用于电子产品的H/E场测量，快速完成干扰源的定位。特色:宽频率范围的探头可以完成几乎所有的测试任务。通过移动探头可以检测出磁场的方向和分布，适用于IC 引脚区域、滤波电容、EMC 器件等的磁场检测；电场近场探头可以检测导体表面产生的电场。无源探头，可以直接连到频谱分析仪或者示波器的50 欧姆输入端，方便检查使用不同手段对磁场或者电流的变化。使用方便，重量轻，安装快捷。
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