AOS新產品(AOD448)比較報告[pic] ■ 測試名稱: IPD60N03,IPD04N03 ,AOD436,AOD448,AOD452 Thermal test& WAREFORM. ■ 測試日期: 2005/01/18 ■ 測試地點:宇詮科技電力電子實驗室 ■ 測試目的: 本實驗為使用同一組PWM IC.在實驗中更換High Side 及 Lowside 的MOSFET以找出最佳的組合, ■ 測試條件: MOTHERBOARD:FIC P4 LGA-775 MOTHERBOARD; 此主機板為上一下二的組態,共4相;以下實驗 為僅更換其中一相。 PWM:Controler: ISL6556BC. Driver: INTERSIL HIP6602 X 2. (一組PWM控制二相)。 ■ 測試項目: 1. 06N03 (HS) + 04N03 (LS) 2. AOS AOD436 (HS) + AOD436 (LS). 3. AOS AOD452 (HS) + AOD448 (LS). 4. AOS AOD452 (HS) + AOD436 (LS). ■ 規格比較表: ● MOSFET|Brand |Part number |Package |Description | LOAD |HS |L……
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