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SN54ACT8990,SN74ACT8990,pdf(Test Bus Controllers, JTAG TAP Masters)

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SN54ACT8990,SN74ACT8990,pdf(Test  Bus  Controllers,  JTAG  TAP  Masters)

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SN54ACT8990 和 SN74ACT8990 是德州仪器(Texas Instruments)生产的测试总线控制器(Test-Bus Controllers),符合 IEEE 标准 1149.1-1990(JTAG)。这些控制器是 SCOPE 测试性集成电路家族的成员,旨在通过边界扫描技术简化复杂电路板组装的测试。与 SCOPE 家族中的其他集成电路不同,ACT8990 的功能是控制 JTAG 串行测试总线,而不是成为目标边界扫描设备。

这些控制器能够控制多达六个并行目标扫描路径,适应高达 31 个时钟周期的流水线延迟,执行长达 232 个时钟周期的指令,并包含四个双向事件引脚以提供额外的测试能力。它们通过 5 位地址总线和 16 位读写数据总线与主机微处理器/微控制器通信,支持多达 24 个寄存器的读写操作,包括控制和状态寄存器、命令寄存器、读缓冲区和写缓冲区。

SN54ACT8990 适用于 -55°C 至 125°C 的全军事温度范围,而 SN74ACT8990 适用于 0°C 至 70°C 的商业温度范围。这些设备采用 EPIC(增强性能植入式 CMOS)1-μm 工艺制造,并提供多种封装选项,包括 44 引脚塑料引线芯片载体(FN)、68 引脚陶瓷引脚网格阵列(GB)和 68 引脚陶瓷四平封装(HV)。

此外,文档还提供了详细的电气特性、绝对最大额定值、推荐操作条件、时序要求和开关特性等技术数据,确保设计者能够正确地将这些控制器集成到他们的系统中。

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