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SN54ACT8990 和 SN74ACT8990 是德州仪器（Texas Instruments）生产的测试总线控制器（Test-Bus Controllers），符合 IEEE 标准 1149.1-1990（JTAG）。这些控制器是 SCOPE 测试性集成电路家族的成员，旨在通过边界扫描技术简化复杂电路板组装的测试。与 SCOPE 家族中的其他集成电路不同，ACT8990 的功能是控制 JTAG 串行测试总线，而不是成为目标边界扫描设备。
这些控制器能够控制多达六个并行目标扫描路径，适应高达 31 个时钟周期的流水线延迟，执行长达 232 个时钟周期的指令，并包含四个双向事件引脚以提供额外的测试能力。它们通过 5 位地址总线和 16 位读写数据总线与主机微处理器/微控制器通信，支持多达 24 个寄存器的读写操作，包括控制和状态寄存器、命令寄存器、读缓冲区和写缓冲区。
SN54ACT8990 适用于 -55°C 至 125°C 的全军事温度范围，而 SN74ACT8990 适用于 0°C 至 70°C 的商业温度范围。这些设备采用 EPIC（增强性能植入式 CMOS）1-μm 工艺制造，并提供多种封装选项，包括 44 引脚塑料引线芯片载体（FN）、68 引脚陶瓷引脚网格阵列（GB）和 68 引脚陶瓷四平封装（HV）。
此外，文档还提供了详细的电气特性、绝对最大额定值、推荐操作条件、时序要求和开关特性等技术数据，确保设计者能够正确地将这些控制器集成到他们的系统中。
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