红外光学系统焦距测量
文档解析
这份文件是《GJB/J6220-2008》标准，即《红外光学系统焦距测量装置校准规范》，由中国兵器工业集团公司提出，中国兵器工业标准化研究所归口，由中国兵器工业第二O五研究所起草。该规范规定了红外光学系统焦距测量装置的计量特性、校准条件、校准项目、校准方法、校准结果处理和复校时间间隔。适用于新制造或新购置、使用中、修理后的红外光学系统焦距测量装置的校准，也适用于其他红外焦距测量仪的校准。
红外光学系统焦距测量装置主要用于测量1~3μm、3~5μm、8~14μm三个波段的红外透镜和系统焦距。其工作原理是利用红外目标发生器成像，通过红外探测接收系统记录焦面坐标位置，转动系统测量像高，然后按公式计算焦距。装置由多个部分组成，包括红外目标发生器、被测系统夹持器、红外探测接收系统等。
计量特性包括外观、工作正常性和最大允许误差，其中最大允许误差为±1.2%。校准条件包括环境条件和校准用设备，环境温度应为20℃±5℃，相对湿度不大于80%。校准项目包括外观检查、工作正常性检查和最大允许误差测量。校准方法详细说明了外观检查、工作正常性检查和误差测量的具体步骤。数据处理包括测量误差和不确定度的计算。校准结果应提供校准证书，复校时间间隔一般为两年，可根据实际情况调整。
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