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StellarNet 光谱仪产品详细简介(英文版)
标签:光谱仪
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StellarNet 光谱仪产品详细简介(英文版) 带官方报价
标签:StellarNet光谱仪
积分:2 类型:技术文档上传者:wanhaihu上传时间:2021-04-05
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前沿材料科学研究-量子材料篇
标签:前沿量子材料
积分:2 类型:应用文档上传者:lightxixi上传时间:2021-03-30
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超快脉冲在先进的NVM测试中的应用及神经元网络测试前瞻
标签:超快脉冲NVM测试神经元网络
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纳米材料及纳米电子器件IV和CV测试
标签:纳米材料及纳米电子器件IV和CV测试
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微机电系统MEMS测试概述
标签:微机电MEMS测试
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泰克微机电系统MEMS测试简介
标签:泰克微机电系统MEMS测试
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泰克类脑计算神经元网络芯片阵列测试方案
标签:泰克类脑计算神经元网络芯片阵列
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泰克电输运物性表征量子材料超导材料测试方案
标签:泰克量子材料超导材料测试
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纳米材料及纳米电子器件测试综述
标签:纳米材料纳米电子器件测试
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用于非易失性存储器测试的1 ns脉冲解决方案
标签:非易失性存储器脉冲
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一种用于信道有效移动性测量的超快单脉冲(UFSP)技术
标签:信道单脉冲UFSP
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新一代电力电子设计中不断发展的材料和测试
标签:电力电子设计材料测试
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使用吉时利4200-SCS型监测MOSFET器件的通道热载流子(CHC)劣化
标签:吉时利4200-SCSMOSFET热载流子
积分:2 类型:应用文档上传者:lightxixi上传时间:2021-03-30
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使用吉时利4200-SCS参数分析仪进行晶圆级可靠性测试
标签:吉时利4200-SCS参数分析仪晶圆级
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使用4225-PMU进行低电流脉冲I-V测量 脉冲测量单元和4225-RPM远程前置放大器开关模块
标签:4225-PMU低电流脉冲远程开关模块
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使用4200A-SCS型半导体特性系统对碳纳米管晶体管(CNT FET)进行电学特性分析
标签:4200A-SCS碳纳米管晶体管电学
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使用4200A-SCS型半导体表征系统对光伏材料和太阳能电池进行电表征测试
标签:4200A-SCS光伏材料太阳能电池电表征测试
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使用4200A-SCS参数分析仪执行电荷泵送测量
标签:4200A-SCS参数分析仪
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使用4200A-SCS参数分析仪进行范德宝和霍尔电压测量
标签:4200A-SCS参数分析仪范德宝霍尔电压
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使用4200A-SCS参数分析仪和直线四探针法测量半导体材料的电阻率
标签:4200A-SCS参数分析仪电阻率
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评估MOSFET器件的热载流子诱导劣化
标签:MOSFET热载流子
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非易失性存储器技术的脉冲I-V特性分析
标签:非易失性存储器技术的脉冲I-V特性分析
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发现今天的解决方案,迎接未来的纳米表征挑战
标签:纳米
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测量材料的电阻率的技术特征
标签:测量材料的电阻率的技术特征
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同惠TH2825ALCR数字电桥使用说明书
标签:数字电桥
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电子元器件测量仪器
标签:电子元器件测量
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电子测量仪器实用大全
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电子测量仪器技术手册
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电桥及电桥在测量优秀课件
标签:电桥测量
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